- wafer inspection microscope
- мікроскоп для оптичного контролю структур на напівпровідниковій пластині
English-Ukrainian dictionary of microelectronics. 2013.
wafer inspection microscope
Смотреть что такое "wafer inspection microscope" в других словарях:
wafer inspection microscope — plokštelių apžiūros mikroskopas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer inspection microscope vok. Waferkontrollmikroskop, n rus. микроскоп для визуального контроля пластин, m pranc. microscope pour inspection des tranches, m … Radioelektronikos terminų žodynas
microscope pour inspection des tranches — plokštelių apžiūros mikroskopas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer inspection microscope vok. Waferkontrollmikroskop, n rus. микроскоп для визуального контроля пластин, m pranc. microscope pour inspection des tranches, m … Radioelektronikos terminų žodynas
Microscope électronique à balayage — Microscopie électronique à balayage Pour les articles homonymes, voir MEB, SEM et Microscope. Microscope électronique à balayage JEOL JSM 6340F … Wikipédia en Français
Waferkontrollmikroskop — plokštelių apžiūros mikroskopas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer inspection microscope vok. Waferkontrollmikroskop, n rus. микроскоп для визуального контроля пластин, m pranc. microscope pour inspection des tranches, m … Radioelektronikos terminų žodynas
plokštelių apžiūros mikroskopas — statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer inspection microscope vok. Waferkontrollmikroskop, n rus. микроскоп для визуального контроля пластин, m pranc. microscope pour inspection des tranches, m … Radioelektronikos terminų žodynas
микроскоп для визуального контроля пластин — plokštelių apžiūros mikroskopas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer inspection microscope vok. Waferkontrollmikroskop, n rus. микроскоп для визуального контроля пластин, m pranc. microscope pour inspection des tranches, m … Radioelektronikos terminų žodynas
MIL-STD-883 — The MIL STD 883 standard establishes uniform methods, controls, and procedures for testing microelectronic devices suitable for use within Military and Aerospace electronic systems including basic environmental tests to determine resistance to… … Wikipedia
Counterfeit electronic components — While counterfeiting has existed for centuries, the appearance of counterfeit electronic components is a relatively new phenomenon, unique to the 21st century[citation needed] and the digital age. Mankind has become increasingly dependent on… … Wikipedia
Microscopie electronique a balayage — Microscopie électronique à balayage Pour les articles homonymes, voir MEB, SEM et Microscope. Microscope électronique à balayage JEOL JSM 6340F … Wikipédia en Français
Microscopie Électronique À Balayage — Pour les articles homonymes, voir MEB, SEM et Microscope. Microscope électronique à balayage JEOL JSM 6340F … Wikipédia en Français
Microscopie électronique à balayage — Pour les articles homonymes, voir MEB, SEM, Microscope (homonymie) et Microscopie. Microscope électronique à balayage JEOL JSM 6340F La microscopie éle … Wikipédia en Français
